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全新發布的AFM-SEM原子力掃描電鏡一體機 AFM-in-Phenom XL 結合了掃描電子顯微鏡 (SEM) 和原子力顯微鏡 (AFM) 的優勢，實現了在同一系統中對樣品進行多模態（SEM 及 AFM 形貌、元素、機械、電學、磁學）關聯分析。